4200A-SCS半导体参数测试仪
参数查看，快速清晰。
推进大胆发现从未如此容易。4200A-SCS 参数分析仪从设置到运行检定测试的时间减少高达 50％，从而实现****的测量和分析能力。此外，嵌入式测量专业知识提供****的测试指导，并让您对*终结果充满信息。
特点
-
用于 DC IV、CV 和脉冲 IV 测量类型的**测量硬件
-
立即使用 Clarius 软件中所含的数百种用户可修改应用程序测试开始测试
-
自动实时参数提取、数据绘图、分析函数
4200A-SCS半导体参数测试仪
准确的 C-V 表征
使用吉时利*新的电容-电压单元 (CVU) 4215-CVU 测量一位数飞法。通过将 1 V AC 电源集成到吉时利行业**的 CVU 架构中，4215-CVU 可在 1 kHz 至 10 MHz 的频率下进行低噪声电容测量。
特点
-
同类产品一款能够驱动1 V AC 电源电压的 CV 表
-
1 kHz 频率，分辨率从1 kHz 到 10 MHz
-
测量电容、电导和导纳
-
使用 4200A-CVIV 多路开关*多可测量四个通道
使用 4215-CVU 进行 Femtofarad (1e-15F) 电容测量
4200A-SCS半导体参数测试仪
测量、 切换、 重复。
4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。 与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现意想不到的结果时轻松排除故障。
特点
-
无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端
-
用户可配置低电流功能
-
个性化输出通道名称
-
查看实时测试状态
4200A-SCS半导体参数测试仪
稳定的低电流测量，适用于 I-V 检定
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模块，您可以在高电容系统实现稳定的低电流测量。4200A-SCS 有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择，可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块，Keithley 可确保您获得准确的低电流测量，而停机时间很少甚至没有。
特点
-
不必将仪器送回工厂即可增加 SMU
-
进行 飞安测量
-
多达 9 个 SMU 通道
-
针对长电缆或大卡盘进行了优化
4200A-SCS半导体参数测试仪
带分析探测器和低温控制器的集成解决方案
4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 MPI、Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。
特点
-
“点击”测试定序
-
“手动”探测器模式测试探测器功能
-
假探测器模式无需移除命令即可实现调试
4200A-SCS半导体参数测试仪
稳定的低电流测量，适用于 I-V 检定
使用 4201-SMU 和 4211-SMU 模块，您可以在高电容系统实现稳定的低电流测量。4200A-SCS 有四种型号的源测量单位 (SMU) 可供选择，可通过定制满足您所有的 I-V 测量需求。通过提供现场可安装单元和可选的预放大器模块，Keithley 可确保您获得准确的低电流测量，而停机时间很少甚至没有。
特点
-
不必将仪器送回工厂即可增加 SMU
-
进行 飞安测量
-
多达 9 个 SMU 通道
-
针对长电缆或大卡盘进行了优化
4200A-SCS半导体参数测试仪
降低成本并保护您的投资
吉时利保障计划以按需服务事件的一小部分成本提供快速、高质量的服务。 只需点击一下或拨打一个电话即可获得维修服务，在此过程中，无需报价或填写采购单，也不会有审批延误。
|
产品技术资料
|
型号
|
描述
|
价格
|
|
查看产品技术资料
|
4200A-SCS-PKA
高分辨率 IV 套件
|
4200A-SCS：参数分析仪主机
4201-SMU：两个用于高容量设置的中间功率 SMU
4200-PA：一个预放大器
8101-PIV：一个带有采样装置的测试夹具
|
索取报价
|
|
查看产品技术资料
|
4200A-SCS-PKB
高分辨率 IV 和 CV 套件
|
4200A-SCS：参数分析仪主机
4201-SMU：两个用于高容量设置的中间功率 SMU
4200-PA：一个预放大器
4215-CVU：一个高分辨率多频 C-V 单元
8101-PIV：一个带有采样装置的测试夹具
|
索取报价
|
|
查看产品技术资料
|
4200A-SCS-PKC
高功率 IV 和 CV 套件
|
4200A-SCS：参数分析仪主机
4201-SMU：两个用于高容量设置的中间功率 SMU
4211-SMU：两个用于高容量设置的高功率 SMU
4200-PA：两个预放大器
4215-CVU：一个高分辨率多频 C-V 单元
8101-PIV：一个带有采样装置的测试夹具
|
索取报价
|
|
查看产品技术资料
|
4200-BTI-A
超快 NBTI/PBTI 套件
|
用于使用**硅 CMOS 技术进行的复杂 NBTI 和 PBTI 测量 4200-BTI-A 套件包括：
-
1 个 4225-PMU 超快 I-V 模块
-
2 个 4225-RPM 远程预放大器/开关模块
-
自动化检定套件 (ACS) 软件
-
超快 BTI 测试项目模块
-
布线
|
索取报价
|
4200A-SCS半导体参数测试仪
生物传感器检定
生物传感器或 bioFET 将对分析物的生物响应转换为电信号。集成到 4200A-SCS 中的 Clarius 软件包括一个用于测试 bioFET 的项目。以此为起点检定生物传感器的传输和输出特性，并从这里展开工作。
4200A-SCS半导体参数测试仪
使用 4215-CVU 模块测量亚毫微微法拉电容。通过驱动 1 V AC，在测量 1 fF 电容器时，4215-CVU 的噪声水平可低至 6 attofarad。这只是 Clarius 软件随附的用于测量电容和提取重要参数的数十种应用程序之一。
使用 4215-CVU 进行 Femtofarad (1e-15F) 电容测量
进行*佳电容和交流阻抗测量
特点
-
内置飞法测量功能
-
从 1kHz 到 10MHz 的 10,000 个频率步进
-
使用用户库定制任何设备的任何测试
4200A-SCS半导体参数测试仪
半导体和 NVM 可靠性
通过**脉冲 I-V 检定在测试中利用新技术。 4200A-SCS 为*新 NVRAM 技术提供支持和即用型测试，从浮动门电路闪存到 ReRAM 和 FeRAM，不一而足。 电流和电压双源和测量功能同时支持瞬态和 I-V 域检定。
评估 MOSFET 设备的热载波感应劣化
用于非易失内存测试的单纳秒脉冲解决方案
非易失内存技术脉冲 I-V 检定
4200A-SCS半导体参数测试仪
提供适合高阻抗应用的 C-V 测量功能
采用 Keithley 的自定义极低频 C-V 技术分析高电阻样本的电容。 该技术可通过仅使用源测量单元 (SMU) 仪器实现应用，同时可与 4210-CVU 结合使用，执行更高频率测量。
4200A-SCS 参数分析仪可在高阻抗设备上执行极低频电容-电压测量
简化 MOSFET/MOSCAP 设备检定的提示和技术
特点
-
.01 ~ 10 Hz 频率范围，1 pF ~ 10 nF 灵敏度
-
3½ 位典型分辨率，*小典型值 10 fF
4200A-SCS半导体参数测试仪
使用长电缆或电容式夹具时进行测试
当测试需要非常长的电缆或具有较高电容的夹具时，请使用 4201 或4211-SMU。这些 SMU 非常适合连接 LCD 测试站、探测器、开关矩阵或任何其他大型或复杂的测试仪。现场可安装版本使您无需将设备返回服务中心即可增加容量。
使用 4201-SMU 和 4211-SMU，通过高测试连接电容进行稳定的低电流测量
