高并行测试能力
3650-S2测试系统具有强大多功能的并行管脚电路（PE），因此可以同时在多个管脚进行相同的参数测试。3650-S2将64个数字通道管脚集成到一张LPC单板上，每张LPC单板包含16颗4通道的时序发生器的高性能Chroma PINF芯片。
单板上集成管理信号分配和数据读出的控制芯片，因此减少了测试机系统控制器的负担。3650-S2采用 any-pin-to-anysite mapping 设计，提供高达 32 sites 的高并行测试能力，通过灵活直观地资源分配来促进大规模量产。
灵活的配置与广泛的应用覆盖范围
半导体制造为一发展迅速前进的产业，生产设备须能使用于多个产品型号更替与应用领域，以延长设备使用期限。 Chroma 3650-S2提供AD/DA转换器测试、ALPG供内存测试、高电压PE、Multi-SCAN测试及模拟测试等多种可选配功能，灵活的配置确保其能应对未来的测试需求。
Chroma 3650-S2测试系统能轻松整合第三方厂商为特定应用所开发的相关仪器设备，弹性结构设计使其能涵盖测试的装置更广泛，扩展了测试的覆盖范围。
占地面积小
Chroma 3650-S2采用风冷式散热及高度集成的测试头设计，占地面积小却能提供高高产量。透过选配不同的支架，3650-S2可以应用于晶圆或封装测试。
CRISP 完整软件直观操作环境
Chroma 3650-S2 采用Chroma整合软件平台CRISP，这是一套易于操作且功能强大的软件工具，让使用者可以高效地进行测试开发，其功能涵盖调试、量产及数据分析等，整合了测试程序开发、测试执行控制、数据分析、测试机管理等所有软件功能，采用Microsoft Windows操作系统及C++程序语言，提供使用者强大、快速和友善操作的GUI工具。
在测试程序整合开发环境（Project IDE tool）内，测试开发人员可以在标准模板、自定义模板和使用C++程序语言的编辑器之间轻松转换，快速创建测试程序并自动扩展至多工位以便进行并行测试，此外，如果需从其他测试平台转移至3650-S2，CRISP还提供测试程序和测试向量转换工具，除了提升设备整合开发弹性，也能降低转移的时间成本。测试程序执行控制器可以在System Control tool和Plan Debugger tool这两种工具之间切换，让使用者在量产或工程调试模式都能有效率地操作，使用者可以在Plan Debugger tool内透过设置 breakpoint、step、step-into、step-over、resume execution、variable-watch及variablemodify来执行测试程序的进程。
CRISP提供丰富软件工具来进行工程调试和数据分析，包含Datalog、Waveform 及 Scope 工具可以清楚的显示测量数据和数字波型，SHMOO 和Pin Margin工具可以透过自动或手动模式轻松地进行工程调试以找出边沿参数，Wafer Map、Summary、Histogram 及STDF这些工具可以有效帮助搜集测试结果和分析测试指标，Test Condition Monitor 和 Pattern Editor 工具提供实时工程调试的进阶功能，并且在不影响测试或调整源文件的状况下，允许用户调整测试条件或测试向量。另外，CRISP还为模拟测试和ALPG选配功能提供 ADDA tool 和 Bit Map tool，运用 ADDA tool 时，用户不但可以透过图形化工具来检视AD/DA的测试结果，还能轻松自行创建ADC向量。这套强大的GUI工具可以完整地满足你对于工程调试和生成测试报告的所有功能需求。
操作员界面（OCI）是使用于量产的操作界面，它能简化并确保量产测试的正确运作，在让操作员操作OCI之前，工程师可以事先在量产设置页面（Production Setup）设定好量产时所需的相关参数，后续当操作员使用OCI时，只需选择设定好的计划即可执行量产测试。
