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半导体/IC测试解决方案
VLSI 测试系统
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产品名称:
VLSI 测试系统
产品型号:
Model 3360
产品展商:
Chroma
产品文档:
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简单介绍
Model 3360 VLSI 测试系统
VLSI 测试系统
的详细介绍
主要特色:
50 MHz 测试频率
608 个 I/O 通道
8M (标准) /16M (选购) Pattern 记忆体
弹性化硬体结构 (互换式 I/O, UVI, ADDA and LCD)
平行测试可达 32 devices
Real Parallel Trim/Match 功能
直接装设 SC312, TS670 针测卡
测试程式/pattern 转换器 (V7, TRI6020, V50, SC312, J750, ITS9K, TS670, ND1)
Analog PE card 选配 (16 ~24 bits)
SCAN test 选配 (512M)
ALPG test 选配供记忆体用
STDF 工具支援
人性化 Windows XP 操作环境
CRAFT C/C++ 程式语言
即时pattern编辑器,含Fail pin/address显示
多样化的测试解析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin, Scope tool,Histogram tool and etc.
Most Flexible Configuration for Various Devices (Logic, LCD, LED, ADDA, ALPG, SCAN, Power and etc.)
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