双用单站测试分类机
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产品名称: 双用单站测试分类机
产品型号: Model 3110
产品展商: Chroma
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简单介绍
是一台双用单站的 Pick & Place 测试分类 机，支援各种不同类型封装的晶片， QFN, Flip-Chip, TSOP等。此分 类机运用 Pick & Place 技术, 将待测晶片由进料舱 移至测试区，再依测试结果进行分类。3110 不 但适用于系统功能检测，也同时具备终端电性测 试的能力。可综合各元件的整体效能并执行测试 系统上的所有测试程式，旨在提供一个全能的解 决方案。
双用单站测试分类机
的详细介绍
主要特色：
- 双用单站测试分类机
- 适用于终端测试或系统功能测试
- 自动进料出料舱的配置及依测试结果自动分类的功能
- 测头内建气室，可吸收及减缓下压触力的冲击
- 智能型的载盘IC残留侦测
- 可选配的三温控制系统 (-40~135℃)
- 可选配的高功率冷却系统
- 理想的产品工程或研发实验设备机，可自动搜集与分析测试、实验结果的数据支援的晶片尺寸从 3x3mm 到 55x55mm，配备有 自动进出料分类舱及手动分类盘，可*优化工程 测试的实验数量。简易操作的操控画面，及适配 性高的testers连接介面，大幅提升机台的使用率 及共用性。除此之外，它能针对不同的测试环境 条件，提供数个温控系统的选择，如三温控制系 统、高功率冷却系统等，测试的环境温度可设置 于常温、高温或低温。
