薄膜厚度自动光学量测系统
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产品名称: 薄膜厚度自动光学量测系统
产品型号: 7505-K007
产品展商: Chroma
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简单介绍
适用于Roll To Roll印刷制程、Thin film等薄膜制程厚度检测
使用3D光学探头，进行非破坏性、快速表面厚度量测与分析
使用陶瓷吸附平台，可将待测物吸附于平台上使表面平整，亦不对待测物造成皱褶或破损
3D厚度量测范围大
可量测透明材质
高静态量测重复精度
高动态量测重复精度
具备脚本功能可进行自动量测
薄膜厚度自动光学量测系统
的详细介绍
产品特色
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适用于Roll To Roll印刷制程、Thin film等薄膜制程厚度检测
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使用3D光学探头，进行非破坏性、快速表面厚度量测与分析
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使用陶瓷吸附平台，可将待测物吸附于平台上使表面平整，亦不对待测物造成皱褶或破损
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3D厚度量测范围大
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可量测透明材质
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高静态量测重复精度
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高动态量测重复精度
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具备脚本功能可进行自动量测
Chroma 7505-K007薄膜厚度自动光学检测系统主要整合3D光学探头，进行非破坏性、快速表面厚度量测与分析，适用于Roll To Roll印刷制程、Thin film等薄膜制程厚度检测。同时配备陶瓷吸附平台，可将待测物吸附于平台上使表面平整，亦不对待测物造成皱褶或破损，3D厚度量测范围大、设备静态重复精度高与设备动态重复精度高，具备Recipe功能可进行自动量测，此外系统亦提供检测数据数据的存盘功能，供后续操作人员处理分析使用。
